wiki-linki.ru - поиск статей википедии и связей между ними

Сканирующий атомно-силовой микроскоп


Атомно-силовой микроскоп (англ. AFM - atomic force microscope) — сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения, основанный на взаимодействии иглы кантилевера (зонда) с поверхностью исследуемого образца. Обычно под взаимодействием понимается притяжение или отталкивание кантилевера от поверхности из-за сил Ван-дер Ваальса. Но при использовании специальных кантилеверов можно изучать электрические и магнитные свойства поверхности. В отличие от сканирующего туннельного микроскопа (СТМ1), может исследовать как проводящие, так и непроводящие поверхности даже через слой жидкости, что позволяет работать с органическими молекулами (ДНК). Пространственное разрешение атомно-силового микроскопа зависит от размера кантилевера и кривизны его острия. Разрешение достигает атомарного по горизонтали и существенно превышает его по вертикали.


Вопрос по теме Сформулируйте свой вопрос в одном предложении. Для вопросов и ответов используется сервис Отвечай.ru

Проект wiki-linki.ru основан на данных Wikipedia, доступной в соответствии с GNU Free Documentation License.